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专业半导体测试探针
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测试探针的分类


探针根据电子测试用途可分为:
A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品;
B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;优良产品的核心技术还是掌握在国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品;
C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。
探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。
悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)
垂直探针:垂直型(Vertical Type)
1、ICT探针 (ICT series Probes)
一般直径在2.54mm-1。27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0。19mm,主要用于在线电路测试和功能测试。也称ICT测试和FCT测试。也是目前应用较多的一种探针。
2、界面探针(Interface Probes)
非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent)。用于测试机台与测试夹具的接触点和面。
3、微型探针(MicroSeries Probes)
两个测试点中心间距一般为0。25mm至0。76mm。
4、开关探针(Switch Probes)
开关探针单独一支探针有两路电流。
5、高频探针(Coaxial Probes)
用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的。
6、旋转探针(Rotator Probes)
弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试。
7、高电流探针(High Current Probes)
探针直径在2。54mm-4。75mm之间.最大的测试电流可达39amps。
8、半导体探针 (Semiconductor Probes)
直径一般在0。50mm-1。27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic。
9、电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)
一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长。
除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用。
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